근용안경 처방법 : 동적검영법

동적검영법 하는 방법

 

우선 트랜스포터에서는 근육에 대한 PD가 설정됩니다.

그런 다음 MEM 마크 카드를 시험관에 부착하거나 근접장 마크 바에 근접장 마크를 설정합니다.

셋째, MEM 마크로 시험관을 유지하거나 0.3-0.5 근접장 스틱 부착 마크를 두 눈으로 보십시오.

넷째, 시험관의 조상 입사광을 수직으로 세우고 수평선을 두 눈으로 동시에 발산광선에 조사합니다.

다섯째, 동반 또는 중화되면 구형 테스트 렌즈 다이얼을 (+) 방향으로 반전시킵니다.

여섯째, 역으로 확인되면 구면시험렌즈다이얼을 (-)방향으로 돌려서 비로소 중화되는 고중화점의 S값이 처방값입니다.

일곱째, (-)방향으로 연속적으로 검사하여 중성화가 종료되는 저중성화점의 S값이 제어 래그값입니다.

 

여기서 주목해야 할 점은 젊은층과 젊은층의 적응 래그를 측정할 때 저중성점(반주에 의한 접근법)을 찾고 있다는 점입니다. 동적 검사법은 내방객의 근안경 처방용이므로 작업근거리에서 검사자의 진찰대를 조정하여 검사를 하는 점에서 정적 검사법과 크게 다르게 됩니다.

제어의 개입에 의해 시시각각 변화하는 불안정한 제어 변동에 의해 중화된 위치는 하나의 위치에 고정되는 것이 아니라 일정한 범위, 즉 중화국을 갖습니다.

 

원래 유리에 대한 정적 차폐법은 중화점을 찾는 것이지만, 동적 차폐법은 중화되는 범위와 중화국을 찾는 것입니다.

정리하면, 중성화국의 (+)방향의 종단은 고중성화점이라고 하며, (-)방향의 종단은 저중성화점이라고 합니다.

먼저 고객의 시선과의 거리를 확인합니다.

둘째, 두 눈을 동시에 중화하되 시기능 분석을 위해 단안차폐 단안검사를 합니다.

셋째, 동공이 좁고 수차가 적으며 측정 거리가 짧아집니다. 동적 검사법에는 단안 평가법, 정적 검사법과 같이 시야와 광학계의 위치를 고정하는 MEM, 고정 동적 검사법과 광학계의 위치를 변화시키는 가동적 검사법이 있습니다.

자동 굴절계는 조작하기 쉽고 초보자도 사용법을 배우지 않고 즉시 사용할 수 있습니다.

즉, 자동 카메라로 눈의 동공을 촬영하는 등 간단한 조작으로 위치를 조정하는 것만으로 측정 버튼을 누르는 것만으로 교정 렌즈의 대략적인 처방 값을 0.5 초라는 매우 짧은 시간에 측정 할 수 있습니다.

 

정적 검사는 안과의사가 꾸준히 사용하고 독자적인 노하우를 쌓으면 우수한 검사법이 될 수 있습니다.

그러나 안과의사는 인내심이 강하고 착실하게 숙련되어 있는 것이 큰 부담이기 때문에 중간에서 시험관을 사용하는 경우가 많습니다. 이 검출기의 결점을 개선한 것은 자동 굴절계입니다. 촬상법은, 광축상에 일정한 영역을 둔 광전소자로서 게스트의 안저로부터의 반사광을 수광하면서 자동굴절계내의 렌즈를 움직여, 화상의 콘트라스트가 최대가 되는 위치, 즉 원점을 찾아내는 콘트라스트 검출법이라고도 불리웁니다.

 

그 이유는 원점에서 콘트라스트가 최대화되기 때문입니다. 보정 굴절률은 S값, C값, 보정 렌즈의 Ax값을 렌즈 이동량에 따라 자동으로 계산합니다. 모든 분야의 디바이스의 자동화 동향 속에서 개발되어 이론의 항에서 기술한 비정형적인 광학 보정 원리에 기초하여 설계하고, IT 기술에 기초한 광학 기술로 구축하였습니다.

 

기본 원리는 불규칙한 때의 광학 보정에 있으므로 그 원점을 찾아내는 것입니다. 고객의 출신을 판별하는 방법에 따라 매칭형, 이미지형, 검사형으로 나뉩니다. 단골손님의 망막으로부터의 반사광선은 눈 밖의 평행광선이며, 장치에 설치한 (+)렌즈에 의해 렌즈의 상초점 F에 집약되어 연속적으로 직선화하여 광선 D의 폭으로 렌즈의 후방에 놓인 검출기를 자극하고, 이 자극의 강도를 전기신호로 측정합니다. 이 D의 폭은 시간대에 따라 좁아지고 근시가 넓어지며 자극 강도가 다르기 때문에 불규칙성 유형을 구별 할 수 있습니다.

 

광자극 검출기는 게스트가 난시일 경우, 난시의 3개의 자오선을 측정함으로써, 난시 보정 토러스 렌즈의 2개의 자오선, 즉 C값과 방위각, 즉 Ax값의 굴절률의 차이를 측정하는 것입니다.

일치식은 광선이 광원Q에서 눈동자로 들어온 후 망막에서 반사되는 광선역행의 원리에 따라 광원Q에서 빛을 광원Q의 위치로 되돌려줌으로써 형성되어 망막상에 명확한 축적을 형성합니다. 샤프한 화상이 규칙적으로 형성되기 때문에 광원 Q의 주위에 소정의 간격으로 배치된 광전 소자는 망막 반사를 검출할 수 없습니다.

 

자극의 크기는 최소 착란원의 크기에 따라 다르며, 이 차이를 측정하면 망막 Q가 망막의 후방에 있는지 전방에 있는지를 판단할 수 있어 검사법의 원리를 응용한 것입니다. 광원은 자동 굴절계의 광학계의 광축 주위를 선조체광으로 회전시켜 자오선을 따라 따로따로 측정하므로 비점수차의 보정 토릭렌즈의 측정이 가능합니다.

광원은 촬상식과 같은 근저적외선을 이용합니다. 광원으로는 근적외선 부채를 사용하여 고객이 주시 테이블을 볼 때 눈을 멀게하지 않도록합니다.

 

관측대는 멀리 떨어진 풍경 사진으로 만들어져 있으며, 외관상의 위치는 항상 손님의 출신지보다 멀리 떨어져있어 개입을 최소화합니다. 제조업체에 따라 자동 굴절계의 기준과 손님의 눈까지의 거리에 따라 각막과 홍채 사이에 초점을 맞추는 방법을 알기 위해 설명서를주의 깊게 읽어야합니다.